Komercyjne udostępnienie aparatury
Regulamin komercyjnego udostępniania Infrastruktury badawczej Wydziału Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego z dnia 29.05.2025r.
- Niniejszy regulamin określa zasady komercyjnego udostępniania infrastruktury badawczej będącej w dyspozycji Wydziału Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego
- Listę aparatury dostępnej komercyjnie zawiera Załącznik nr 1. Lista może ulegać zmianom. Aktualna lista będzie publikowana na stronie internetowej Wydziału Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego.
- Udostępnianie Infrastruktury na rzecz podmiotów zewnętrznych odbywa się na podstawie umowy dwustronnej.
- Dziekan Wydziału Fizyki może wyrazić zgodę na udostępnianie wybranej infrastruktury na podstawie zlecenia.
- Dziekan Wydziału Fizyki UW wskazuje osobę odpowiedzialną za realizację umowy i nadzór nad jej wykonaniem.
- Udostępnianie infrastruktury badawczej Wydziału Fizyki UW jest co do reguły odpłatne. Ostateczna cena za usługę obliczana jest na podstawie konkretnego zapotrzebowania oraz cen jednostkowych wymienionych w cenniku stanowiącym Załącznik nr 2 do niniejszego regulaminu. Cennik może ulegać zmianom. Aktualna wersja cennika będzie publikowana na stronie internetowej Wydziału Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego.
- W szczególnych, uzasadnionych przypadkach Dziekan Wydziału Fizyki UW może podjąć decyzję o zwolnieniu lub redukcji opłat.
- Korzystanie z aparatury dostępnej komercyjnie przez osoby niebędące pracownikami WF UW jest możliwe wyłącznie po odbyciu przez te osoby szkolenia BHP oraz szkolenia na stanowisku pracy
Cennik komercyjnego udostępnienia aparatury znajdującej się w IGF:
(*) Cena netto zwiera 20% narzutu UW zgodnie z rozporządzeniem Rektora UW. Cena podana w EUR będzie przeliczana na złotówki zgodnie z kursem z dnia podpisania umowy.
l.p. | Aparatura | Typ usługi | Cena netto (*) | Uwagi |
1 | Infrastruktura badawcza RS-Lab | Dedykowane eksperymenty i integracja danych przy użyciu instrumentów pomiarowych RS-Lab |
410 Euro | Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy) |
2 | Infrastruktura badawcza RS-Lab | Optymalizacja i testowanie nowoczesnych rozwiązań technologicznych |
410 Euro | Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy) |
3 | Infrastruktura badawcza RS-Lab | Klasyfikacja aerozoli i ocena ich źródeł w przypadku transportu na duże odległości |
410 Eur | Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy) |
4 | Infrastruktura badawcza RT-Lab | Pomiary wzrostu higroskopijnego aerozolu atmosferycznego |
410 Euro | Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy) |
5 | Infrastruktura badawcza RT-Lab | Profilowanie dolnej atmosfery z wykorzystaniem drona |
410 Euro | Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy) |
6 | Infrastruktura badawcza RT-Lab | Modelowanie i pomiary transferu promieniowania w atmosferze |
410 Euro | Koszt jednostki dostępu (1JD = jeden ośmiogodzinny dzień roboczy) |
7 | Elipsometr RC2 Woollam NLPQT ZOI |
Precyzyjne pomiary współczynnika załamania (n) i ekstynkcji (k), dwójłomności (Δn), transmisji, odbicia oraz grubości cienkowarstwowych struktur w funkcji kąta padania i w zakresie spektralnym 193–1690 nm, z wykorzystaniem technik elipsometrii spektroskopowej. | 250 zł / próbka, w przypadku materiałów niestandardowych 350zł/ h |
W ramach pomiaru elipsometrycznego zapewniamy kompleksowe modelowanie danych, w tym ekstrakcję parametrów optycznych i strukturalnych. Możliwość pomiaru w funkcji temperatury próbki w zakresie - 70°C to 600°C |
8 | Elipsometr IR-VASE Mark2 Woollam NLPQT ZOI |
Precyzyjne pomiary współczynnika załamania (n) i ekstynkcji (k), dwójłomności (Δn), transmisji, odbicia oraz grubości cienkowarstwowych struktur w funkcji kąta padania i w zakresie spektralnym 1690–30000 nm, z wykorzystaniem technik elipsometrii spektroskopowej. | 350 zł / próbka, w przypadku materiałów niestandardowych 450zł/ h |
W ramach pomiaru elipsometrycznego zapewniamy kompleksowe modelowanie danych, w tym ekstrakcję parametrów optycznych i strukturalnych. Możliwość pomiaru w funkcji temperatury próbki w zakresie - 70°C to 600°C |
9 | Skaningowy mikroskop elektronowy z przystawką do mikroanalizy rentgenowskiej (Zeiss Sigma HV) NLPQT ZOI |
Pomiary topografii powierzchni i/lub składu pierwiastkowego | 250 zł /h | |
10 | Napylarka próżniowa wiązką elektronów (Lesker PVD 75) NLPQT ZOI |
Naparowywanie cienkich warstw metalicznych i dielektrycznych o grubościach do 300 nm |
350 zł /h + koszt materiału |
Możliwość użycia działa jonowego i obrotu talerza |
11 | Stanowisko do testowania metamateriałów i trójwymiarowych nanostruktur fotonicznych w zakresie spektralnym 193 - 16000 nm. NLPQT ZOI |
- pomiar własności dyspersyjnych metodą interferometrii spektralnej - pomiar generacji wyższych harmonicznych - pomiar nieliniowości metodą z-scan - pomiar dynamiki przejść elektronowych metodą pompa-sonda - pomiar własności dyfrakcyjnych |
500 zł /h | |
12 | Stanowisko do litografii interferencyjnej w ultrafiolecie NLPQT ZOI |
- naświetlanie materiałów fotoczułych - modyfikacja powierzchni impulsowym promieniowaniem laserowym o długości fali 1030nm z wykorzystaniem lasera femtosekundowego i skanera galvo - Preparatyka i modyfikacja próbek: czyszczenie i trawienie plazmowe, spin-coating - cięcie i grawerowanie próbek laserem CO2 |
350 zł /h |